產(chǎn)品分類
光學(xué)鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級(jí)全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了頤光科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù),包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等??蓱?yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。
可同時(shí)進(jìn)行 SCI 和 SCE 測(cè)量,并通過液晶面板顯示 SCI /SCE 數(shù)據(jù);
技術(shù)參數(shù)符合 GB2410-2008 ASTM D1003-61(1997) JIS K7105-81 等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
玻璃厚度激光測(cè)試儀本產(chǎn)品為激光位移傳感測(cè)試儀,可滿足手機(jī)蓋板玻璃等各種特種玻璃厚度測(cè)試。
光密度儀OD值測(cè)試 LS117光密度儀主要用于測(cè)量材料的光密度和透光率值,主要適用于以下三大類材料的測(cè)量:乳白,霧狀,磨砂毛面等各種漫透射材料的透光率;X光片,鋁膜等材料的光密度測(cè)量;各種菲林膠片的光密度,相對(duì)光密度,網(wǎng)點(diǎn)面積率測(cè)量。
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