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物理特性分析儀器
測(cè)厚儀
XAD-200上海實(shí)驗(yàn)室鋁件鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品型號(hào):XAD-200
更新時(shí)間:2025-09-03
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪 問(wèn) 量 :358
18662699877
XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀,既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足RoHS有害元素檢測(cè)及成分分析,搭載全自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移,實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守多點(diǎn)測(cè)量,測(cè)量軟件置入*的EFP算法及解譜技術(shù),解決了諸多業(yè)界難題。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
1)搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),最小測(cè)量面積達(dá)0.03mm2
2)擁有無(wú)損變焦檢測(cè)技術(shù),手動(dòng)變焦功能,可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm
3)核心EFP算法,可對(duì)多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準(zhǔn)檢測(cè)第一層Ni和第三層Ni的厚度)
4)配備全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái),可實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守,對(duì)成百上千個(gè)樣品進(jìn)行全自動(dòng)檢測(cè)
5)涂鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92)
6)成分分析范圍:鋁Al(13)- 鈾U(92)
7)RoHS、鹵素有害元素檢測(cè)
8)人性化封閉軟件,自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作
9)標(biāo)配四準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
10)配有微光聚集技術(shù),最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于10%
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